IPC APEX 展会 — 3月18-20日 — 3205展位
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Seica诚邀您参加APEX展会，观摩Pilot VX和Compact SL，探索下一代测试技术。
Seica美国公司将参加于2025年3月18-20日在加利福尼亚州阿纳海姆市阿纳海姆会议中心举行的2025年IPC APEX EXPO展会。前往3205号展位，您将体验到Seica的Pilot VX飞针测试平台和Compact SL针床式测试仪的全自动配置，以及由Canavisia控制面板提供的实时数据分析。
目前，自动化对于优化制造流程至关重要，而Seica始终站在提供先进测试解决方案的最前沿。Seica设备与VIVA集成平台 (VIP™) 的集成实现了测试技术的无缝结合，从而在最短的时间内达到最大的吞吐量和测试覆盖率。
Pilot VX是Seica的旗舰飞针系统，展示了最先进的机械结构和运动控制器，可将测试时间缩短50%。Pilot VX配备了12个多功能测试头，可同时对多达44个点进行双面探测。先进的硬件，如基于微波的测量技术以及FlyPod和FlyStrain™等独特的选件，进一步增强了其测试能力。 FlyPod使单个移动探头可携带多达 14 个通道，而FlyStrain™则可生成被测设备上的压力/力拓扑结构。
Compact SL旨在提供最强的可配置性和定制性，满足全面的测试要求，包括在线、功能和组合测试。它支持在板编程（OBP）等高级任务，集速度与灵活性于一身，可满足当今制造环境严格的吞吐量要求。借助最新的ATE BOOSTER模块，该系统可提高LED测试和OBP性能，同时最大限度地降低硬件成本。
此外，Seica还将展出DeviceClip。这是一种通用ISP（系统内编程）编程工具，可用于对任何半导体制造商生产的所有类型的半导体器件（微控制器、串行存储器、可编程逻辑器件）进行编程。该解决方案采用模块化设计，可配置成多达64个并行、完全独立、多协议的ISP通道，并配有可与各操作系统兼容的嵌入式控制面板。DeviceClip集成了高性能微电脑，编程速度快，并且根据不同目的模块内的每个通道都可配置，灵活性强。DeviceClip既能在工作台上独立运行，也能成到我们的任何测试平台中，如Pilot VX或Compact系列测试仪。
Canavisia控制面板，实现实时监控
除了展示行业领先的测试解决方案外，Seica还将展示Canavisia 控制面板，这是一个提供实时数据采集和可视化的数字监控平台。在我们的3205展台上，Canavisia 控制面板将与Pilot VX和Compact SL系统连接，直接将实时数据流传输到iPad上。这一功能突出展示了生产或设备管理人员如何远程监控关键指标，以确保优化流程和提高决策力。
Canavisia 控制面板为工业监控和能源管理提供直观、用户友好的分析。凭借它制造商能够实时跟踪关键生产指标、监控设备性能并分析能源消耗。这种可视性和控制水平有助于简化操作、减少停机时间并提高整体效率。
3205展位，互动演示
参观Seica展位的观众将亲眼目睹这些系统如何通过Compact SL和Pilot VX之间对电路板进行无缝处理来简化流程。Seica存储墙上的专用显示器将显示实时性能数据，提供系统功能的全面视图。先进的自动化与Canavisia控制面板实时数据流的强大功能相结合，Seica为下一代电子制造提供了整体解决方案。
获取更多信息，请访问www.seica.com