Seica将首次亮相PCIM Expo & Conference
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Seica作为电子行业全球领先高科技、创新型测试解决方案的供应商，很高兴宣布将推出两款专用于功率半导体测试的新型解决方案。
Seica将于5月6日至8日亮相德国纽伦堡的PCIM Expo & Conference，展位号为4-235。届时，我们将展出两款专用于功率半导体测试的新型解决方案，同时参观者还可以深入了解Seica的专业探针卡测试解决方案。
S20 IS³
S20 IS³ 系统为测试分立功率器件（包括碳化硅和氮化镓技术）提供了前沿解决方案。该系统专为交流和直流静态和动态测试而设计，它能够精确且可重复地表征电气参数，这对于确保IGBT、MOSFET和二极管等组件的可靠性和性能至关重要，使其成为研发、生产和质量控制中不可或缺的工具。
静态测试测量导通电压（Vce、Vds）、漏电流（Ic、Id）和阈值电压（Vth）等关键参数，确保器件符合其电气规格。动态测试评估开关特性，包括导通/关断时间、上升/下降时间和能量损耗，这对实际应用至关重要。通过测试静态和动态参数，制造商可以在元件集成到功率系统之前检测到潜在的故障，从而避免因现场故障导致的高昂损失，同时证明器件在运行时能发挥最佳性能。
S20 IS³先进的测量系统能够执行高精度测量，结果可靠并具有可重复性，其设计紧凑、节省空间，可实现直流-静态、栅极、交流-动态测试的单箱集成。该系统具有可配置性，因此用户可以加入模块来执行当前所需的测试，还具有可扩展性，可添加更多模块以满足新的测试要求。集成的高级菜单驱动软件界面友好，便于用户进行测试设置，集成示波器等一系列功能有助于简化调试过程，并提供测试结果的完整可追溯性。
S20 RTH
S20 RTH测试台旨在提供精确的热阻（RTH）特性分析，并具有先进的电源和冷却管理功能。在所有半导体器件中，晶体管是迄今为止最重要的一类，几乎所有晶体管都是三引脚器件（MOSFET、BJT、IGBT），与二极管不同的是，它们有一个驱动部分，这使它们对功率处理与输入信号之间的相互作用等相关问题更加敏感。在现代电源设计中，人们越来越重视整个系统的电气效率和半导体器件的结温，这种测试评估了功率MOSFET器件在开关模式电源中使用时的热应力。通过这种计算并结合器件的物理特性，可以预测结内达到的温度，以及所需的允许余量或散热片，以确保系统在运行期间具有适当的热余量。这种方法非常重要，因为正确的计算可以更准确地评估系统寿命，并确保在安全工作区内工作。
S20 RTH 可以安全地处理大电流负载（标准配置为1200A@15V或30V），确保在实际工作条件下进行精确的热性能评估。
Seica的电源开关硬件是测试架构的关键要素，可对负载电流进行可编程控制关断，从而最大限度地减少振荡，使系统能够在大电流关断后80us内执行精确测量。工作台的配置是可扩展的，从2个被测设备（DUT）到并行测试的12个被测设备（DUT），视吞吐量需求而定。系统自动测量和控制每个DUT的冷却剂温度、流量和压力，优化热稳定性并确保测量的可靠性。该功能大大简化了初始设置操作，可处理高达120°C的温度和高达100 升/分钟的流量。
欢迎莅临我们的4-235号展台，了解我们的创新如何助力您快速发展！